PCB電路板測試、檢驗(yàn)及規(guī)范涉及的概念解釋（十三）

1.光學(xué)比較器光學(xué)比較器(光學(xué)放大器):
通過光線從真實(shí)電路板或負(fù)片上的透射和反射，再通過機(jī)器的鏡頭放大系統(tǒng)或電子對焦方式，從顯示屏上獲得清晰的畫面，以輔助目視檢查。美國奧蒂公司生產(chǎn)的Optek  104型號可以將其成像放大300倍，并有DC電機(jī)驅(qū)動的X、Y移動臺面，可以靈活選擇需要觀察的固定點(diǎn)。這種“光比較儀”有多種功能，可用于檢查、測量、通訊和討論等。很方便。此外，程序編帶機(jī)上還安裝了一個簡單的“學(xué)習(xí)比較器”，用來放大和對齊標(biāo)記所需的孔位置，從而正確打印出X、Y數(shù)據(jù)的紙帶。
2.光學(xué)檢查光學(xué)檢查：
這是近10年來在電路板領(lǐng)域發(fā)展起來的一種成熟的檢測技術(shù)，稱為自動光學(xué)檢測(AOI)。就是利用電腦將正確的電路圖案儲存在數(shù)字存儲器中，然后快速掃描比較生產(chǎn)出來的電路板。這種方法可以代替目視檢查，找出短路或開路的異常情況，對多層板的內(nèi)層最為有利。但是這種“光學(xué)檢測”并不是萬能的，不可避免的會有一些實(shí)力上的不足。有必要配合“電氣試驗(yàn)”加強(qiáng)出貨板的可靠性。
3、光學(xué)儀器光學(xué)儀器：
一些與“光學(xué)”有關(guān)的儀器，在制造過程和成品中經(jīng)常用于電路板的檢驗(yàn)，如借助“光電池”檢測槽液濃度的監(jiān)測儀器，用于顯微切片的高功率層析顯微鏡或低功率體視顯微鏡，以及“光學(xué)比較儀”、SEM、TEM等電子顯微鏡。結(jié)合電子技術(shù)更加精密，甚至簡單的放大鏡，都屬于光學(xué)儀器。目前這些功能日益增強(qiáng)，效果已經(jīng)有了很大的提升。但是這些現(xiàn)代設(shè)備價格非常昂貴，使得先進(jìn)的PCB崛起。
4.針孔針孔：
廣義上，從表面到基板能看到的各種通孔稱為針孔，而在電路板中，指的是電路或孔壁上的外觀缺陷。如圖是四種不同程度的缺陷，分別叫做凹痕、凹坑、針孔、空洞。